石墨电极电阻率的测量报价、冠测精电(优质商家)

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配**探头，也可测试电池较片等箔上涂层电阻率方阻。      《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。    SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.    测量方位: 轴向、径向均可.

采用两个或多个单元从而实现分布式电缆的多端测试。将被测线缆连接到相应的连接器，选择其中的一个单元作为主机，石墨电极电阻率的测量点击查看，检索先前存储的线束，将线束分别连接至测试仪即可实现测试。在较短时间内就会向用户报告诸如打开、短路、交叉线或高电阻等故障。可选的TDR特性允许您不仅诊断连接器故障，还可以将故障追溯到线束中的特定位

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。

有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 

《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

可测材料尺寸   手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：    直    径：圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。    方测试台直接测试方式180mm×180mm。    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.    测量方位: 轴向、径向均可.

测量范围：测量半导电电阻率时： 电阻率10-4--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm

测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ

 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

 测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

电流输出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．

电磁铁电源：具有直流与交流电流模式；要采用真正的双较四相限电源，提供平滑

的零磁场转换功能和断水断电保护功能；要求为水冷模式，减少测试噪音，冷却效果充

分，确保电子器件的有效散热，设备稳定性好，寿命长。